General discussion

Pi Process - Audit

Bonjour,J'ai une question concernant les audits sur le le facteur Pi Proces. Lors du remplissage de cet audit, il est possible de choisir les phases/activités applicables ou non (fabrication, …).La question est : lorsqu’une phase est applicable, est-il nécessaire de marquer chaque question de cette phase en tant qu’applicable et de noter la réponse ou bien est-il possible d’indiquer pour certaines questions qu’elles sont « non-applicables » ?Par exemple :

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Rapport de fiabilité d'un OE(Organisme d'entretien aéronautique)

Bonjour, Actuellement étudiant ingénieur élaborant un rapport de fiabilité des équipements montés sur la flotte A319 & A 320 comme projet de fin d'études, j'aimerai savoir si en tant que membre d'un organisme entretien, je peux procéder à une étude selon la méthodologie FIDES étant donné que l'exploitation et la maintenance sont une partie intégrante du cycle de vie de chaque équipement. Dans la mesure ou c'est possible, suis-je en droit d'avoir l'ensemble des données quant à la conception, la fabrication et le développement de certains équipements (exemple calculateur de chez Thales av

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Temperature profile

Bonjour,
 
j'ai une application avec un profile temperature pouvant aller jusqu'a 160°C.
Hors le guide FIDES 2009 semble etre applicable uniquement pour des temperatures < 125°C.
Mes questions :
était ce deja le cas avec Fides 2004?
Il y a t il un moyen de prendre en compte ces hautes temperatures dans fides 2009?
Sinon existe il des methodes d'estimation de fiabilité prenant en compte ces haute temperature?
 
Merci d'avance.

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Forums: 

Forum cleaning

Dear all,
I have begun to tidy the forum, mainly by moving posts in the right section.
The forum will keep a trace of these moves only for recent messages.
In the future, please take a few seconds to choose a convenient section for your posts. Perhaps are the section tittle not clear enough? Your feedback is welcome.
 
Lambda

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Interaction of components in reliability prediction

Hello,

I am working on reliability of a semiconductor system, therefore I am looking at different reliability prediction methodologies. I do not see the effect of interaction of components on each other on system reliability. I wonder if you have information about any study of this subject.

I am looking forward for any reply, and thanks in advance for your help.

Kind regards,

Sima

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